納米級(jí)微觀特征看不清？低電壓下分辨率斷崖式下跌？測(cè)量數(shù)據(jù)畸變導(dǎo)致科研誤判？中圖儀器工業(yè)顆粒度分析掃描電鏡牌子（CEM3000系列）4nm高分辨率，40s極速抽氣，為科研、質(zhì)檢、研發(fā)提供“精準(zhǔn)、可靠、高效"的微觀分析解決方案！

一、解決哪些測(cè)量痛點(diǎn)？

二、有哪些性能特點(diǎn)？

1. 40s極速抽氣技術(shù) 

（1）高效率：低真空模式抽氣僅需40秒，高真空模式1.5分鐘，較傳統(tǒng)電鏡效率提升60%以上。 

（2）流程無(wú)縫銜接：優(yōu)化真空系統(tǒng)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)“抽氣-檢測(cè)-放氣"全流程快速流轉(zhuǎn)，特別適合批量質(zhì)檢任務(wù)。 

（3）抗振防磁：搭載專(zhuān)屬?gòu)?fù)合抗振系統(tǒng)，車(chē)間、桌面、手套箱均可部署，無(wú)需專(zhuān)用防震臺(tái)。 

2. 4nm精準(zhǔn)分辨率 

（1）高清成像：SE模式下分辨率優(yōu)于4nm (@20kV)，20萬(wàn)倍放大。無(wú)論是60nm銀線(xiàn)還是晶粒結(jié)構(gòu)，細(xì)節(jié)分毫畢現(xiàn)。 

（2）低壓高清：獨(dú)特的鏡筒內(nèi)加減速設(shè)計(jì)，即使在低電壓（250V-5kV）下也能保持高分辨成像，不噴金也能看清不導(dǎo)電樣品。 

（3）精準(zhǔn)測(cè)量：正交畸變校準(zhǔn) + 場(chǎng)曲校準(zhǔn)，全視野無(wú)模糊、無(wú)拉伸，數(shù)據(jù)誤差率極低，直接滿(mǎn)足科研論文發(fā)表要求。 

三、為B端用戶(hù)創(chuàng)造哪些實(shí)際價(jià)值？

1.科研端：數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可追溯，滿(mǎn)足論文發(fā)表、項(xiàng)目驗(yàn)收的嚴(yán)謹(jǐn)性要求，加速研發(fā)突破；

2.質(zhì)檢端：納米級(jí)缺陷（如焊接微裂紋、涂層針孔）無(wú)漏檢，降低產(chǎn)品不合格率與市場(chǎng)風(fēng)險(xiǎn)；

3.成本端：省去敏感樣品噴金、復(fù)雜預(yù)處理步驟，縮短檢測(cè)周期，降低耗材與人工成本；

4.效率端：批量樣品檢測(cè)時(shí)，高分辨+自動(dòng)化操作雙重加持，檢測(cè)吞吐量提升30%以上。

四、產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格

注：本工業(yè)顆粒度分析掃描電鏡牌子產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改，恕不另行通知，如需獲取新產(chǎn)品技術(shù)信息可咨詢(xún)客服獲取。

五、全行業(yè)應(yīng)用場(chǎng)景

一臺(tái)機(jī)器，多處開(kāi)花。滿(mǎn)足科研、質(zhì)檢、研發(fā)的需求。

1.材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線(xiàn)）、高熵合金粉末、復(fù)合材料微觀結(jié)構(gòu)分析。 

2.新能源/光伏：太陽(yáng)能電池板涂層缺陷檢測(cè)、儲(chǔ)能材料孔隙結(jié)構(gòu)分析。 

3.生物醫(yī)療：未噴金生物組織、微流控芯片、花粉微觀形態(tài)觀測(cè)（無(wú)需復(fù)雜前處理）。 

4.工業(yè)質(zhì)檢：錫球焊接質(zhì)量（IMC分析）、PCB電路板微裂紋、精密器件表面粗糙度檢測(cè)。 

六、廠家實(shí)力與售后

1.中圖儀器作為深耕精密檢測(cè)設(shè)備的實(shí)力廠家，全系列產(chǎn)品通過(guò)認(rèn)證，提供完整檢測(cè)報(bào)告，滿(mǎn)足高校與國(guó)企合規(guī)采購(gòu)需求。

2.深圳自有工廠，核心技術(shù)自主研發(fā)，無(wú)中間商差價(jià)，報(bào)價(jià)透明。

3.可根據(jù)您的行業(yè)需求，定制顆粒度統(tǒng)計(jì)、孔隙率測(cè)量等自動(dòng)化分析軟件。

4.售后：

①12個(gè)月整機(jī)質(zhì)保

②2小時(shí)售后響應(yīng)，72小時(shí)上門(mén)維修

③免費(fèi)上門(mén)安裝調(diào)試 + 終身技術(shù)支持 

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（注：產(chǎn)品參數(shù)與配置方案可能因技術(shù)升級(jí)調(diào)整，具體以實(shí)際溝通為準(zhǔn)。）